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X-3000是一種體�(xiàn)X射線熒光分析技�(shù)進展的能量色�X射線熒光光譜儀。它采用低功率小�X光管為激�(fā)源,電制冷硅半導體探測器為探測單�,再加上我公司專門開發(fā)的應(yīng)用軟件,充分�(fā)揮各部件的優(yōu)異性能,保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應(yīng)�。需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之��
技�(shù)參數(shù)�
激�(fā)源:本機采用低功� X 射線管(Mo靶),最高電壓可�50KV,最大電�1mA
高壓電源:最�50W�50KV�1mA
探測器:電制� Si PIN半導體探測器�55Fe的能量為5.9Kev�MnKα�,分辨率�(yōu)�170KeV�
多道分析器:2048�
軟件:基�WINDOWS的強大工作軟件。定量分析包括:�(jīng)驗系�(shù)�,理�a系數(shù)法和基本參數(shù)法� 定性分析包括: KL線標�� 譜圖比較和光標尋峰等。客戶可進行二次開發(fā),自行開�(fā)任意多個分析方��
電源:交�220V 50Hz
體積�520mm×600mm×270mm
重量:約 42kg (主機)
主要特點�
X-3000型測金儀�(yōu)勢的方面為采用了較為先進的半基本參�(shù)�。該方法是一種理論方�。由測量主元素分析線的凈強度(這些主成分之和應(yīng)接近100%)并使用X射線熒光強度的理論公式來校正元素間的相互影響(吸收增強效�(yīng)�?;緟?shù)法可以在一定的準確度下提供可靠的分析結(jié)�。它既不需要校準曲線,也不需要從�(jīng)驗中提取校正系數(shù)。它只需要少量可靠的標準樣品在確定的儀器條件下計算每個分析元素的純元素強度即�。采�X射線熒光方法,適應(yīng)范圍廣泛,工作曲�,方法可自由選取,修�。對各種科研,分析單位的適應(yīng)能力��
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